检索结果：
标准状态：
年代号：
从
到
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 | 相关操作 |
|---|---|---|---|---|---|
| JB/T 11780-2014 | 无损检测仪器阵列涡流检测仪性能和检验 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-10-01 | |
| JB/T 13936-2020 | 无损检测仪器磁粉检测用磁化设备技术要求 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 | |
| JB/T 11604-2013 | 无损检测仪器超声波测厚仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 | |
| JB/T 12458-2015 | 无损检测仪器多通道数字超声检测仪 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-03-01 | |
| JB/T 11276-2012 | 无损检测仪器超声波探头型号命名方法 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 | |
| JB/T 7411-2012 | 无损检测仪器电磁轭磁粉探伤仪技术条件 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 | |
| JB/T 12454-2015 | 无损检测仪器声扫频检测仪 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-03-01 | |
| JB/T 11277-2012 | 无损检测仪器单通道声阻抗检测仪 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 | |
| JB/T 12727.3-2016 | 无损检测仪器试样第3部分：电磁（涡流）检测试样 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 | |
| JB/T 11611-2013 | 无损检测仪器涡流-磁记忆综合检测仪 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 | |
| JB/T 11605-2013 | 无损检测仪器金属磁记忆检测仪技术条件 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 | |
| GB/T 26830-2011 | 无损检测仪器高频恒电位工业X射线探伤机 | 现行 | 2011-07-29 | 2011-12-01 | |
| GB/T 36071-2018 | 无损检测仪器X射线实时成像系统检测仪技术要求 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 | |
| GB/T 33887-2017 | 无损检测仪器工业光纤内窥镜检测仪 | 现行 | 2017-07-12 | 2018-02-01 | |
| GB/T 36017-2018 | 无损检测仪器X射线荧光分析管 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
