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标准详细信息

T/CSPSTC 25-2019　硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法现行

中国标准分类号：F12

国际标准分类号：27.160

英文名称：Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID)
适用范围：

本标准规定了硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法的范围、术语和定义、装置、试样、程序、数据处理和试验报告。本标准只适用于硅基薄膜光伏组件。

基本信息

发布机构：
发布日期：2019-08-28
实施日期：2019-11-15
全文语种：
全文页数：